Sposób pomiaru jakości działania lamp lotniskowych oraz zestaw pomiarowy do badania jakości działania zagłębionych lamp lotniskowych

Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru jakości działania lamp lotniskowych oraz zestaw pomiarowy do badania jakości działania zagłębionych lamp lotniskowych do zastosowania do badania jakości działania lamp lotniskowych pozwalający na przeprowadzenie kontroli parametrów fotometrycznych zagłębionych lamp lotniskowego oświetlenia nawigacyjnego.
Sposób pomiaru jakości działania lamp lotniskowych, polega na tym, że lokalizuje się położenie platformy za pomocą systemów geolokalizacyjnych oraz przetwarzania sekwencji wizyjnych. Następnie na podstawie danych sensorycznych z matrycy czujników precyzuje się lokalizację lampy oraz dokonuje pomiaru.
Zestaw pomiarowy do badania jakości zagłębionych lamp lotniskowych w postaci platformy pomiarowej, składającej się z przyczepy dwuosiowej, charakteryzuje się tym, że na platformie
pomiarowej zamontowano matryce pomiarowe z czujnikami natężenia światła w odpowiednich zależnościach odległości oraz kątów oraz czujnik spektrum światła widzialnego.

Urządzenie może być eksploatowane przez porty lotnicze, niezależnie od rodzaju lamp lotniskowych oraz ich producentów lamp. Urządzeniem mogą być zainteresowane także ośrodki badawcze pracujące nad poprawą bezpieczeństwa lotniczego, jak również jednostki naukowo-badawcze.

oświetlenie nawigacyjne, lampy lotniskowe, platforma pomiarowa, pomiary fotometryczne, matryca pomiarowa

Wyjątkowość usług, które są realizowane za pomocą opracowanej technologii polega przede wszystkim na kompleksowym działaniu, niezależnym od ograniczeń producentów oświetlenia lotniskowego, przy zachowaniu stosunkowo niskiego kosztu urządzenia, przy zapewnieniu standardów EASA (Europejskiej Agencji Bezpieczeństwa Lotniczego

- Twórca jest zainteresowany nawiązaniem współpracy w celu dalszych badań nad wynalazkiem
- Twórca jest zainteresowany wdrożeniem wynalazku
- Twórca wyraża zgodę na udział w Spotkaniu Brokerskim
- Twórca jest zainteresowany zbyciem praw majątkowych do wynalazku