Szerokopasmowa metoda pomiaru stałej dielektrycznej cienkich podłoży dielektrycznych

Przedmiotem wynalazku jest szerokopasmowa metoda pomiaru stałej dielektrycznej cienkowarstwowych podłoży dielektrycznych, przeznaczona do wyznaczania stałej dielektrycznej w szerokim paśmie częstotliwości mikrofalowych. Metoda polega na konwersji otrzymanych macierzy rozproszenia S z obu pomiarów na macierze łańcuchowe. Znanymi metodami matematycznymi, przy pomocy modelu obwodowego całej struktury, dokonuje się ekstrakcji względnej stałej dielektrycznej badanego podłoża.
Próbkę badanego podłoża umieszcza się na przewodzącej powierzchni połączonej z masą układu pomiarowego, a na samej próbce umieszcza się przewodzący pasek, tworząc tym samym mikropaskową linię transmisyjną. Końce paska podłącza się do wrót dwuwrotowego wektorowego analizatora sieci, a następnie dokonuje się pomiaru parametrów macierzy rozproszenia S, modyfikuje się szerokość środkowego odcinka przewodzącego paska i dokonuje się ponownego pomiaru macierzy parametrów rozproszenia S tak zmodyfikowanego paska.

Przykłady zastosowań:
 szerokopasmowa charakteryzacja parametrów elektrycznych podłoży dielektrycznych wykorzystywanych w telekomunikacji w zakresie częstotliwości mikrofalowych,
 szybkie oraz nieniszczące badanie jakości i jednorodności cienkich podłoży dielektrycznych,
 produkcja wysokiej jakości obwodów mikrofalowych zaprojektowanych pod konkretny fragment podłoża dielektrycznego.
Potencjalni odbiorcy:
 producenci laminatów mikrofalowych: Rogers, Taconic, Arlon, Isola, AGC Nelco, Polyflon.
 producenci precyzyjnych układów mikrofalowych: Mini-circuits, Anritsu, Johanson Technology, Keysight Technologies, NXP, Corvo, Renesas Electronics America Inc.
 przemysł lotniczy/wojskowy/kosmiczny, samochodowy: Airbus, Lockheed Martin. Suchoj, Boeing, NASA, ESA. PIT-RADWAR, Tesla, VW Group.

- wprowadzenie nowego produktu/usługi

stała dielektryczna, linia mikropaskową, metoda nierezonansowa, podłoża dielektryczne, pomiar szerokopasmowy

 wspomaganie/zastąpienie obecnie stosowanej metody dwóch linii (różnicowej fazy) w szerokopasmowym badaniu stałej dielektrycznej cienkowarstwowych podłoży dielektrycznych,
 brak konieczności przeprowadzenia specjalnej obróbki mechanicznej podłoża oraz nieniszczący pomiar umożliwią wyznaczenie parametrów elektrycznych teoretycznie każdego cienkowarstwowego, niskostratnego, podłoża dielektrycznego, a także pozwolą na zwiększenie zakresu i częstości wykonywania tego typu badań,
 możliwość zaprojektowania układu mikrofalowego pod konkretny fragment podłoża dielektrycznego pozwoli na poprawienie parametrów wykonywanego obwodu wysokiej częstotliwości,
 wczesne wykrycie problemów z jakością i jednorodnością podłoża dielektrycznego umożliwi redukcję kosztów związaną z wykonaniem wadliwego obwodu.

- Elektronika, mikroelektronika

- badania na etapie laboratoryjnym

- Twórca jest zainteresowany nawiązaniem współpracy w celu dalszych badań nad wynalazkiem
- Twórca jest zainteresowany wdrożeniem wynalazku
- Twórca wyraża zgodę na udział w Spotkaniu Brokerskim
- Twórca jest zainteresowany zbyciem praw majątkowych do wynalazku

- instytut naukowo - badawczy, uniwersytet
- ośrodek transferu technologii
- przemysł
- usługi